Phase Change Memory

Phase Change Memory

Device Physics, Reliability and Applications

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Beschreibung

This book describes the physics of phase change memory devices, starting from basic operation to reliability issues. The book gives a comprehensive overlook of PCM with particular attention to the electrical transport and the phase transition physics between the two states. The book also contains design engineering details on PCM cell architecture, PCM cell arrays (including electrical circuit management), as well as the full spectrum of possible future applications.

Produktdetails

ISBN 9783319690537
Verlag Springer International Publishing
Erscheinungsdatum 18.11.2017
Sprache Englisch
Mitwirkende Andrea Redaelli (Herausgeber/in)

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