CMOS Plasma and Process Damage

CMOS Plasma and Process Damage

von Kirk Prall

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Beschreibung

This book discusses the complex technology of building CMOS computer chips and covers some of the unusual problems that can occur during chip manufacturing. Readers will learn how plasma and process damage results from the high-energy processes that are used in chip manufacturing, causing harm to the chips, functional failure and reliability problems. 

Produktdetails

ISBN 9783031890291
Verlag Springer Nature Switzerland
Erscheinungsdatum 16.05.2025
Sprache Englisch

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